中析研究所CMA实验室进行的硅微粉检测,可测样品:超细硅微粉、表面改性硅微粉,会为您提供晶相分析、化学成分分析、含水量等检测服务,并出具严谨、合规、标准的第三方检测报告。标准参考:GB/T 21236、T/NXCL 001、SJ/T 10675等。
项目详情:
硅微粉检测是一项重要的测试项目,用于测试硅微粉的质量和纯度。硅微粉作为一种常用的工业材料,广泛应用于电子、建筑、化工等领域。通过对硅微粉进行定期的检测,可以确保其符合产品要求,并且能够正常应用于各种工艺中。硅微粉检测主要包括对其粒径分布、比表面积、化学成分、杂质含量等参数的测试和分析,以确保其质量稳定、纯度高,并及时发现潜在的问题和缺陷。
检测样品
超细硅微粉、高纯硅微粉、低纯硅微粉、多晶硅微粉、单晶硅微粉、表面改性硅微粉等。
电器、塑料、涂料、高级油漆、橡胶等用硅微粉等。
检测项目
粒径分布、比表面积、晶相分析、化学成分分析、含水量、杂质含量、热稳定性、烧失量、密度、流动性、中位粒径检测、球形度、球化率、白度、烧灼矢量检测、电导率、筛分余量检测、磁性异物、结晶检测等。
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参考周期:常规测试7-15工作日,加急测试5个工作日.
检测仪器(部分):
粒度分析仪:粒度分析仪是用于测量硅微粉粒径分布的设备。它通过将硅微粉样品与液体或气体进行分散,利用光散射原理或激光衍射原理,测量和分析散射光的强度和角度,从而得出硅微粉的粒径分布。粒度分析仪可以帮助检测人员了解硅微粉的颗粒大小和分布情况,判断其适用性和加工性能。
表面积分析仪:表面积分析仪是用于测量硅微粉比表面积的设备。它通过吸附气体在硅微粉表面的吸附量,计算出单位质量或单位体积的硅微粉的比表面积。表面积分析仪可以帮助检测人员了解硅微粉的表面特性和吸附能力,判断其分散性和反应性。
扫描电子显微镜:扫描电子显微镜是用于观察硅微粉表面形貌和微观结构的设备。它通过电子束扫描样品表面,获取高分辨率的显微图像,并能够进行形貌和成分分析。扫描电子显微镜可以帮助检测人员观察硅微粉的颗粒形状和结构特征,判断其纯度和晶体状态。
X射线衍射仪:X射线衍射仪是用于测量硅微粉晶体结构的设备。它通过射入X射线束,测量硅微粉样品对X射线的衍射角度和强度,从而得出硅微粉的晶体结构信息。X射线衍射仪可以帮助检测人员了解硅微粉的晶体形态和结构特征,判断其晶体质量和相对含量。
检测详情(部分):
粒度分析:测量硅微粉颗粒的大小分布。这可以帮助测试硅微粉的颗粒大小范围和均匀性。
化学成分分析:分析硅微粉中的化学成分,包括硅含量、杂质含量等。这可以帮助测试硅微粉的纯度和质量。
表面积测定:测量硅微粉的比表面积。这可以帮助测试硅微粉的吸附能力和反应活性。
密度测量:测量硅微粉的密度。这可以帮助测试硅微粉的填充性和堆积特性。
比重测定:测定硅微粉的比重。这可以帮助测试硅微粉的密度和颗粒间的空隙。
粒形分析:分析硅微粉的颗粒形态,如圆度、角度等。这可以帮助测试硅微粉的流动性和堆积性。
吸湿性测试:测试硅微粉的吸湿性能。这可以帮助测试硅微粉在湿度变化时的稳定性和性能。
标准参考
GB/T 21236-2007 电炉回收二氧化硅微粉
GB/T 32661-2016 球形二氧化硅微粉
GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
GB/T 37406-2019 电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法
SJ/T 10675-2002 电子及电器工业用二氧化硅微粉
T/CESA 1186-2022 电子封装用二氧化硅微粉表面硅羟基含量测试方法 酸碱滴定法
T/NXCL 001-2021 精细陶瓷用亚微米碳化硅微粉
T/SCDA 002-2017HF 硅微粉改性聚苯颗粒不燃保温板外墙保温系统应用技术标准
T/SCDA 002-2018HF 硅微粉改性聚苯颗粒不燃保温板外墙保温系统应用技术标准
T/SCDA 002-2021HF 硅微粉改性聚苯颗粒不燃保温板外墙保温系统应用技术标准
T/SCDA 006-2017HF 硅微粉改性聚苯颗粒不燃保温板外墙保温系统建筑构造
T/SCDA 006-2018HF 硅微粉改性聚苯颗粒不燃保4温板外墙保温系统建筑构造
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。