金属薄膜检测

中析研究所实验室进行的金属薄膜检测，会为您提供理化性能、元素分析等检测服务，并出具严谨、合规、标准的第三方检测报告。

检测范围

强磁体、半导体、微电器金属薄膜等。

检测项目

外观、闭口、闪点、凝点检测、含水率、健康、安全性检测、环保污染度、原油密度、成分分析、定性检测、定量分析、元素分析检测等。

参考标准

JB/T 10616-2006强磁体金属薄膜磁敏电阻

SJ 21168-2016MEMS 惯性器件金属薄膜生长工艺技术要求

ANSI INCITS 163-1988(R2002)信息系统 接触式开关金属薄膜存储器盘 每道83333通量跃迁,130mm(5.118英寸)外径,40mm(1.575英寸)内径(取代ANSI X3.163-1988 R(2002)标准)

ASTM F390-2011用共线四探针法对金属薄膜的薄膜耐力的试验方法

CEI EN 62047-14-2013半导体器件微机电器件第14部分:金属薄膜材料的成形极限测量方法

IEC 62047-14-2012半导体装置 微电机装置 第14部分:金属薄膜材料的成形极限测量方法

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).