迟滞比较器检测

中析研究所CMA实验室进行的迟滞比较器检测，会为您提供性能测试、相应试验、稳定性测试等检测服务，并出具严谨、合规、标准的第三方检测报告。标准参考:GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理、GOST 23089.1-1983 集成微型电路 运算放大器和电压比较器放大系数的测量方法、GOST 23089.14-1988 微型集成电路. 电压比较器接通和断开滞后时间的测定方法等。

检测样品

电压比较器、电流比较器、功率比较器、频率比较器、相位比较器、温度比较器、压力比较器、光比较器和模拟比较器等。

检测项目

电压测量精度检测、输入电阻检测、输出电流检测、响应时间检测、迟滞检测、电源电压波动检测、工作温度范围检测、漏电流检测、短路保护检测、过温保护检测、电源电流波动检测、输入电流检测、输入电压范围检测、电源电压稳定性检测、工作湿度范围检测、抗干扰能力检测、输出电压稳定性检测、温度漂移检测、环境适应能力检测、噪音抑制能力检测。

技术相关、费用详情或其他测试项目请咨询工程师!

参考周期:常规测试7-15工作日,加急测试5个工作日.

仪器详情(部分)

信号发生器：用于产生不同频率、振幅和波形的信号，以测试迟滞比较器对不同信号的响应和输出。

示波器：用于测量迟滞比较器输入和输出信号的波形、幅值、频率等参数，以测试其响应和准确性。

多功能电表：用于测量迟滞比较器的输入、输出电压、电流和功率等参数，以测试其电性能和效率。

温度计：用于测量迟滞比较器的温度，以测试其温度稳定性和工作性能。

噪声测试仪器：用于测量迟滞比较器的噪声水平，以测试其噪声性能和噪声控制效果。

频谱分析仪：用于分析迟滞比较器输出信号的频谱特征，以测试其频率响应和信号失真情况。

相位计：用于测量迟滞比较器输入和输出信号的相位差，以测试其相位一致性和延迟情况。

故障诊断仪器：如逻辑分析仪、故障模拟器等，用于对迟滞比较器进行故障诊断和模拟，以测试其可靠性和故障容忍性。

检测方法(部分)

基本功能测试：通过输入不同的信号和参考信号，观察迟滞比较器的输出是否符合预期，以测试其基本的比较功能。

输入电压范围测试：对迟滞比较器的输入端施加不同幅值和频率的电压信号，检测其能够正常工作的电压范围。

输出响应时间测试：通过输入信号的变化，测量迟滞比较器从输入信号变化到输出信号变化的时间间隔，以测试其响应速度和延迟。

过渡特性测试：输入一个周期性变化的信号，并观察迟滞比较器输出信号的过渡特性，包括上升时间、下降时间和过渡失真等。

噪声和干扰测试：施加不同幅值和频率的噪声和干扰信号，检测迟滞比较器的输出是否受到干扰，并测试其抗干扰性能。

温度稳定性测试：将迟滞比较器置于不同温度条件下，检测其输出信号是否受到温度变化的影响，并测试其温度稳定性。

耐久性测试：对迟滞比较器进行长时间的连续工作或循环工作测试，测试其耐久性和稳定性，包括检测其在使用过程中的性能变化和寿命。

标准详情(部分)

GB/T 6798：本标准规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试。

SJ/T 10805：本标准规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法。

标准参考

GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法

SJ 50597.1-1994 半导体集成电路 JT54LS85型LS-TTL四位数值比较器详细规范

SJ 50597/23-1994 半导体集成电路 JF710型电压比较器详细规范

SJ 50597/29-1994 半导体集成电路 JC4585型CMOS4位数值比较器详细规范

CAN/ULC 61481-1-15-2015 实时工作 ? 相位比较器 ? 第 1 部分：用于超过 1 kV a.c. 的电压的电容类型 - 第一版

CEI EN 61481/A1-2003 带电作业。用于1千伏至36千伏交流电压的便携式相位比较器

CEI EN 61481-2001 带电作业。1千伏和36千伏交流电压的便携式相位比较器。第一版

GOST 23089.1-1983 集成微型电路 运算放大器和电压比较器放大系数的测量方法

GOST 23089.4-1983 集成微型电路 运算放大器和电压比较器输入电流和输入电流差的测量方法

GOST 23089.11-1983 集成微型电路 运算放大器和电压比较器同相输入电压衰减系数测量方法

GOST 23089.14-1988 微型集成电路. 电压比较器接通和断开滞后时间的测定方法

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).