薄膜元器件检测

中析研究所旗下CMA实验室进行的薄膜元器件检测，可测样品：MOS管、光敏电阻等，会为您提供电磁兼容性、可见光透过率等检测服务，并出具严谨、合规、标准的第三方检测报告。

项目详情：

薄膜元器件检测是一项用于检测薄膜元器件质量和性能的项目。薄膜元器件广泛应用于电子、光电子、光学等领域，包括薄膜电容器、薄膜电阻器、薄膜传感器等。通过对薄膜元器件进行检测，可以确保其制造工艺和性能符合设计要求，以提高产品的可靠性和稳定性。检测项目主要包括外观检测、尺寸测量、电性能测试、热稳定性测试等。常用的检测方法有显微镜观察、电阻测量、电容测量等。

检测范围

电容器、电感器、电阻器、二极管、三极管、MOS管、场效应管、光敏电阻、光电二极管、光耦合器件、声音传感器等。

检测项目

外观检测、电阻、电容、电感、介电常数、介电损耗、频率特性、温度特性、厚度、光学特性、电流密度、热分解温度、耐电压、耐湿热、焊接性能、可靠性、包装完整性、封装材料性能、表面平整度、可见光透过率、抗腐蚀性、抗氧化性、封装密封性、电磁兼容性、静电放电、可靠性、环境适应性等。

技术相关、费用详情或其他测试项目请咨询工程师!

参考周期:常规测试7-15工作日,加急测试5个工作日.

检测仪器(部分)：

扫描电子显微镜、原子力显微镜、红外光谱仪、电子束物理气相沉积仪、电子束蒸发器、溅射沉积设备、电子束光刻机、电子束束缚机、光学显微镜、拉曼光谱仪、电子束热蒸发仪、表面粗糙度测试仪、光学薄膜分析仪等。

检测详情(部分)：

电性能测试：测试薄膜元器件的电阻、电容、电感等电性能参数，以测试其电学性能和稳定性。

尺寸和外观检测：检测薄膜元器件的尺寸、外观和结构，包括长度、宽度、厚度、焊盘连接等，以测试其制造工艺的准确性和产品的品质。

温度特性测试：测试薄膜元器件在不同温度下的电性能和温度特性，包括温度系数、工作温度范围等，以测试其在不同温度环境下的性能和稳定性。

耐久性测试：测试薄膜元器件的耐久性和可靠性，包括热老化、湿热老化、震动和冲击等环境条件下的性能变化，以测试其在实际应用中的可靠性。

包装完整性检测：检测薄膜元器件的包装完整性和密封性，包括包装材料的完整性、标签的准确性和包装防尘性等，以测试其质量控制和产品的保护性。

参考标准

GB/T 26332.1-2018 光学和光子学 光学薄膜 第1部分：定义

GB/T 26332.2-2015 光学和光子学 光学薄膜 第2部分：光学特性

GB/T 26332.3-2015 光学和光子学 光学薄膜 第3部分：环境适应性

GB/T 26332.4-2015 光学和光子学 光学薄膜 第4部分：规定的试验方法

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).