氧化铝检测

中析研究所旗下CMA实验室进行的氧化铝检测，可测样品：纳米氧化铝、氧化铝颗粒、氧化铝棒等，会为您提供颗粒大小、机械强度、透明度等检测服务，并出具严谨、合规、标准的第三方检测报告。标准参考:GB 30181-2013 微晶氧化铝陶瓷研磨球单位产品能源消耗限额、BB/T 0089-2022 包装用镀氧化铝薄膜、DB37/749-2007 氧化铝综合能耗限额等。

检测范围

纳米氧化铝、超细氧化铝、改性氧化铝、氧化铝层析柱、氧化铝陶瓷、氧化铝砖、氧化铝颗粒、氧化铝纤维、氧化铝粉末、氧化铝球、氧化铝板、氧化铝管、氧化铝棒、氧化铝异型材等。

检测项目

颗粒大小、比表面积、晶相组成、化学组成、杂质含量、热稳定性、机械强度、抗压强度、耐磨性、耐腐蚀性、电性能、热导率、吸水性、透明度等。

技术相关、费用详情或其他测试项目请咨询工程师!

参考周期:常规测试7-15工作日,加急测试5个工作日.

检测仪器(部分)：

电子天平、X射线衍射仪、红外光谱仪、激光粒度分析仪、比表面积测量仪等。

检测方法(部分)：

X射线衍射法：使用X射线衍射仪等设备对氧化铝的晶体结构进行检测，以确认其纯度和晶体结构。

红外光谱法：使用红外光谱仪等设备对氧化铝的化学结构进行检测，以确认其纯度和化学结构。

比表面积测试法：使用比表面积测试仪等设备对氧化铝的比表面积进行测试，以检测其比表面积是否符合标准要求。

粒度分析法：使用粒度分析仪等设备对氧化铝的粒度进行测试，以检测其粒度是否符合标准要求。

化学分析法：使用化学分析仪等设备对氧化铝的化学成分进行检测，以确认其化学成分是否符合标准要求。

参考标准

GB 30181-2013 微晶氧化铝陶瓷研磨球单位产品能源消耗限额

GB/T 14619-2013 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T 14620-2013 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T 15057.7-1994 化工用石灰石中氧化铝含量的测定 铬天青S分光光度法

GB/T 15154-1994 电子陶瓷用氧化铝粉体材料

GB/T 27979-2011E 氧化铝耐磨陶瓷复合衬板(英文版)

BB/T 0089-2022 包装用镀氧化铝薄膜

DB12/ 046.20-2011 产品单位产量综合能耗计算方法及限额 第20部分：氧化铝型材

DB15/T 925-2015 单一稀土氧化物中非稀土杂质化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法测定氧化铝、氧化铬、氧化锰、氧化钴、氧化镍、氧化铜、氧化锌、氧化铅、氧化镉和氧化砷含量

DB15/T 926-2015 电感耦合等离子体发射光谱法测定混合稀土产品中的氧化铝量

DB37/749-2007 氧化铝综合能耗限额

DB53/T 639.1-2014 直接还原铁化学分析方法 第1部分：氧化钙、氧化镁、氧化铝含量的测定 EDTA滴定法

DBl2/046.20-2008 氧化铝型材工序能耗计算方法及限额

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).