二次光谱检测

检测项目

1.元素定性定量分析（检出限0.1ppm-1000ppm）

2.化学键振动模式识别（波数范围400-4000cm⁻¹）

3.晶体结构表征（2θ角度范围5°-90°）

4.表面元素分布成像（空间分辨率≤1μm）

5.薄膜厚度测量（精度±0.5nm）

6.缺陷态密度分析（能量分辨率<0.1eV）

7.热稳定性测试（温度范围-196℃~1600℃）

检测范围

1.金属材料：铝合金表面氧化层、钛合金相组成

2.半导体器件：硅基芯片掺杂浓度、GaN外延层缺陷

3.高分子材料：聚乙烯结晶度、环氧树脂固化度

4.陶瓷制品：氧化锆相变分析、碳化硅晶界成分

5.生物样品：骨骼钙磷比测定、植物叶片微量元素分布

6.纳米材料：量子点尺寸效应研究、石墨烯层数判定

检测方法

1.ASTME1252-17(2021)红外反射光谱法测定有机涂层厚度

2.ISO14707:2015辉光放电光谱表面成分分析标准

3.GB/T21186-2007傅里叶变换红外光谱分析方法通则

4.ASTME3061-17拉曼光谱法定量分析多晶型混合物

5.GB/T17359-2012电子探针显微分析通用技术条件

6.ISO21270:2004X射线光电子能谱表面化学态分析方法

检测设备

1.ThermoScientificNicoletiS50FTIR光谱仪：配备ATR附件实现无损快速检测

2.BrukerD8ADVANCEXRD衍射仪：配置LynxEye阵列探测器提升信噪比

3.HoribaLabRAMHREvolution拉曼系统：532/633/785nm多波长激光源配置

4.ShimadzuEDX-7000X荧光光谱仪：50kV铑靶X射线管支持Na-U元素分析

5.PerkinElmerSTA8000同步热分析仪：集成TG/DSC模块实现联用测试

6.JEOLJSM-7900F场发射电镜：搭配OxfordX-MaxN80能谱系统

7.Agilent4300HandheldFTIR便携式红外仪：适用于现场快速筛查作业

8.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD系统：配置高温附件支持原位相变研究

9.RenishawinViaQontor共聚焦拉曼显微镜：空间分辨率达250nm级

10.HitachiSU9000冷场发射电镜：加速电压0.5-30kV连续可调

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.