光栅角度编码器检测

检测样品

光栅线、位移、测量装置、光栅角度编码器等。

检测项目

抗扰度、对骚扰试验、静电放电测试、脉冲群测试、耦合夹检测、电压冲击性能、电压试验、短时中断影响率、分辨力、测量长度、外壳防护性能、最大移动速度、供电电压、准确度、有效量程、重复精度、计数测试、外观缺陷、连续运行试验、相互作用力、气候环境、防护等级、抗干扰性能、抗快速瞬变电脉冲群干扰性能等。

力学性能：机械振动、冲击试验测试、频率等检测。

检测周期：标准:7-15个工作日，可加急(参考周期)

标准参考

JB/T 10030-2012光栅线位移测量装置

GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A:低温

GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B:高温

GB/T2423.3-2006电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab:恒定湿热试验

GB/T2423.5一1995电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则：冲击

GB/T2423.10一2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc:振动(正弦)

GB4208一2008外壳防护等级(P代码)

GB/T4365一2003电工术语电磁兼容

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.