硫锡矿检测

检测项目

1.主成分分析：SnS₂含量测定（50-95%），S/Sn摩尔比（1.8-2.2）

2.伴生元素检测：Fe（0.1-5%）、Cu（0.05-3%）、Zn（0.01-1.5%）

3.晶体结构表征：晶胞参数（a=3.64,c=5.88），空间群P3m1

4.粒度分布测试：D50值（10-200μm），比表面积（0.5-5m/g）

5.有害元素控制：As≤500ppm,Pb≤300ppm,Cd≤100ppm

检测范围

1.天然硫锡矿原矿石及选矿产品

2.冶金级硫化亚锡精矿（Sn≥60%）

3.半导体材料前驱体（4N级高纯SnS₂）

4.锂离子电池负极材料改性添加剂

5.光伏薄膜材料镀层原料

检测方法

ASTMD4294-21《硫化物矿物X射线荧光光谱分析法》

ISO20203:2018《X射线衍射法定量分析晶体结构》

GB/T17413.3-2010《锂硼酸盐熔片-XRF法测定锡含量》

GB/T24583.2-2019《辉光放电质谱法测定痕量杂质》

ISO13320:2020《激光衍射法粒度分析通则》

ASTME1941-10《电子探针微区成分分析标准》

检测设备

1.ThermoScientificARLPERFORM'XX射线荧光光谱仪（波长色散型，元素范围Be-U）

2.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪（Cu靶Kα辐射，2θ范围5-140）

3.MalvernMastersizer3000激光粒度仪（测量范围0.01-3500μm）

4.PerkinElmerNexION2000ICP-MS（检出限达ppt级）

5.JEOLJXA-8530F电子探针显微分析仪（空间分辨率3nm）

6.NetzschSTA449F5同步热分析仪（TG-DSC联用）

7.QuantachromeAutosorb-iQ全自动比表面分析仪（BET法）

8.Agilent7900ICP-OES（轴向观测等离子体发射光谱）

9.ShimadzuEDX-7000能量色散X射线光谱仪（快速半定量分析）

10.MettlerToledoXSE105电子天平（0.01mg精度）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.