检测项目
1.粒径分布:采用动态光散射法测定1-1000nm范围内的颗粒尺寸分布(D50/D90)
2.金属元素含量:通过ICP-OES测定Ag/Au/Cu等目标元素浓度(检出限0.01-1ppm)
3.Zeta电位:测试胶体稳定性(测量范围200mV)
4.形貌特征:TEM观测颗粒形状及分散状态(分辨率≤0.2nm)
5.氧化度分析:XPS测定表面氧化层厚度(深度分辨率5nm)
检测范围
1.纳米金属胶体材料:包括纳米银溶液、金纳米棒等新型功能材料
2.电子浆料产品:导电银胶、铜浆等电子封装材料
3.催化材料:铂/钯基催化剂浆料
4.生物医用材料:载药金属胶束制剂
5.防腐涂料:含锌/铝基防腐涂层原料
检测方法
1.ASTME2834-12:纳米颗粒粒径分布的动态光散射测试标准
2.ISO13320:2020:激光衍射法粒度分析通用准则
3.GB/T30448-2013:纳米粉末中金属含量的电感耦合等离子体发射光谱法
4.ASTME2865-12:Zeta电位测量的电泳光散射标准方法
5.GB/T36065-2018:纳米材料形貌表征透射电子显微镜方法
检测设备
1.MalvernZetasizerNanoZS:配备633nm激光器,可同步测定粒径与Zeta电位
2.ShimadzuICPE-9820:垂直炬管设计实现ppb级金属元素定量分析
3.JEOLJEM-2100F:场发射透射电镜(200kV),配备EDS能谱仪
4.HoribaLB-550:动态光散射粒度仪(1nm-6μm测量范围)
5.ThermoScientificK-Alpha+:X射线光电子能谱仪(单色AlKα源)
6.PerkinElmerOptima8300:垂直观测ICP-OES光谱仪(轴向/径向双模式)
7.BeckmanCoulterDelsaMaxPro:多角度Zeta电位及分子量分析系统
8.AntonPaarLitesizer500:全自动激光粒度/Zeta电位一体机
9.Agilent7900ICP-MS:三重四极杆质谱仪(超痕量元素分析)
10.BrukerDimensionIcon:原子力显微镜(峰值力轻敲模式)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。