检测项目
1.主成分含量测定:SnI₂纯度≥99.5%,采用滴定法或X射线荧光光谱法(XRF)定量分析。
2.金属杂质限量:铅(Pb)≤10ppm、铜(Cu)≤5ppm、铁(Fe)≤20ppm,通过ICP-MS进行痕量元素检测。
3.水分含量控制:卡尔费休法测定游离水及结晶水总量≤0.3%(w/w)。
4.溶解性测试:在乙醇、丙酮中溶解度≥50g/100mL(25℃),目视观察溶液澄清度。
5.粒度分布分析:D50粒径范围1-5μm,激光衍射法测定粒径分布均匀性。
检测范围
1.电子材料:半导体薄膜沉积用高纯碘化亚锡(纯度≥99.99%)。
2.化学试剂:分析级SnI₂试剂(符合GB/T6684-2008标准)。
3.催化剂:有机合成反应中负载型碘化亚锡催化剂。
4.医药中间体:药物合成用超低重金属含量SnI₂原料。
5.光学镀膜材料:红外窗口涂层用纳米级碘化亚锡粉末。
检测方法
1.GB/T223.5-2008《钢铁及合金化学分析方法还原型硅钼酸盐光度法测定酸溶硅含量》:适配SnI₂中硅杂质测定。
2.ASTME1479-2016《电感耦合等离子体原子发射光谱法标准试验方法》:用于多元素同步定量分析。
3.ISO760-1978《水的测定—卡尔费休法》:精确测定结晶水及吸附水总量。
4.GB/T19077-2016《粒度分析激光衍射法》:表征粉末样品粒径分布特性。
5.JISK0067-1992《化学制品熔点及熔融范围试验方法》:测定SnI₂熔点(3202℃)。
检测设备
1.电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS):Agilent7900型,检出限低至0.01ppb。
2.X射线荧光光谱仪:RigakuZSXPrimusIV,实现非破坏性主成分快速分析。
3.激光粒度分析仪:MalvernMastersizer3000,测量范围0.01-3500μm。
4.卡尔费休水分测定仪:Metrohm899Coulometer,分辨率0.1μgH₂O。
5.紫外可见分光光度计:ShimadzuUV-2600i,波长范围190-1400nm。
6.热重分析仪(TGA):TAInstrumentsQ500,温度精度0.1℃。
7.熔点测定仪:BchiM-565,控温速率0.1-20℃/min可调。
8.扫描电子显微镜(SEM):HitachiSU8010,分辨率1.0nm@15kV。
9.离子色谱仪:ThermoScientificDionexICS-600,阴离子检出限<0.1ppb。
10.微波消解系统:CEMMars6,最高温度300℃,压力800psi。
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。