检测项目
1.抗弯强度测试:施加500-3000N轴向载荷,测量断裂临界值(GB/T775.3-2006)
2.孔隙率检验:采用水煮法(100℃5)持续24h,吸水率≤0.5%(IEC60672-3)
3.绝缘电阻测定:5000VDC电压下表面电阻≥1000MΩ(GB/T20142-2006)
4.温度循环试验:-40℃~+70℃循环10次,无开裂现象(ASTMC1161)
5.超声波探伤:频率2.5MHz探头扫描内部缺陷(JB/T9674-2012)
检测范围
1.高压瓷套管(110kV及以上输变电系统)
2.复合绝缘子用瓷质芯体(硅橡胶复合结构)
3.防污闪型釉面瓷套管(爬电比距≥31mm/kV)
4.硅藻土基多孔瓷套管(孔隙率0.1-0.3μm级)
5.氧化铝增强瓷套管(Al₂O₃含量≥95%)
检测方法
1.ASTMC611:高频高压下介电强度测试(干/湿状态)
2.IEC62217:多应力老化试验(UV+盐雾+湿热综合作用)
3.GB/T16927.1:雷电冲击耐受电压试验(550kV波形8/20μs)
4.ISO7500-1:机械性能试验机校准规范(精度等级0.5级)
5.DL/T1048:电子显微镜法分析釉面微裂纹(放大倍率5000)
检测设备
1.WDW-100微机控制万能试验机(量程100kN,位移分辨率0.001mm)
2.HIOKIIR4056高阻计(测量范围110~110⁶Ω)
3.ThermoScientificARLEQUINOX1000X射线衍射仪(陶瓷相组成分析)
4.ESPECPL-3J温度冲击箱(转换时间≤15s,温变速率30℃/min)
5.OLYMPUSEPOCH650超声探伤仪(带宽0.5-15MHz)
6.ZEISSEVOMA15扫描电镜(分辨率3nm@30kV)
7.HAEFELYPDCheck612局部放电检测系统(灵敏度0.1pC)
8.BYKGardnermicro-TRI-gloss多角度光泽度计(20/60/85同步测量)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。