掺锗光纤检测

检测项目

1. 锗掺杂浓度检测：采用EDX/XRF技术测定GeO₂含量（0.1-25 mol%），精度±0.03%

2. 折射率分布测量：纵向分辨率≤1μm，径向扫描范围125±2μm

3. 几何参数测试：包层直径125±1μm，纤芯直径4-62.5μm（允差±0.5μm）

4. 传输损耗特性：波长范围850-1625nm（单模光纤≤0.4dB/km@1550nm）

5. 机械性能测试：抗拉强度≥4GPa，动态疲劳参数n≥20

检测范围

1. 单模掺锗通信光纤（G.652.D/G.657.A2）

2. 多模渐变折射率光纤（OM3/OM4/OM5）

3. 高非线性光子晶体光纤（GeO₂掺杂率＞18%）

4. 掺锗石英预制棒（芯层直径20-80mm）

5. 特种光纤器件：EDFA用增益光纤、分布式传感光纤

检测方法

1. ASTM E1508-12a：波长色散X射线荧光光谱法测定掺杂元素

2. ISO/IEC 60793-1-21：折射近场法测量折射率分布

3. GB/T 15972.31-2021：光纤几何尺寸测试方法

4. ITU-T G.650.1：单模光纤传输特性测量规范

5. GB/T 9771.3-2020：通信用光纤机械性能试验规程

检测设备

1. Thermo Fisher Scientific NORAN System 7 EDX光谱仪（Ge浓度定量分析）

2. EXFO NR-9200HR折射率分析系统（空间分辨率0.5μm）

3. ZYGO Verifire HDX激光干涉仪（直径测量精度±0.05μm）

4. Keysight N7788B光波元件分析仪（C+L波段损耗谱测试）

5. Instron 5944万能材料试验机（载荷范围0.05N-50kN）

6. Anritsu MT9810A偏振模色散测试系统（PMD≤0.1ps/√km）

7. Yokogawa AQ6370D光谱分析仪（波长精度±0.01nm）

8. OFS Fitel SCS-4000光纤切割强度测试仪（三点弯曲法）

9. Luna OBR 4600光频域反射计（空间分辨率10μm）

10.Hamamatsu C12740光子计数型近红外探测器（响应波长800-1700nm）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.