检测项目
1. 基底反射率测定:测量未印刷区域在660nm波长下的漫反射率(≥40%)
2. 光学对比度验证:空白区域与理论条码区域的最小亮度差(PCS值≥0.6)
3. 尺寸精度校验:基材表面平整度误差(±0.1mm/m²)
4. 边缘清晰度分析:使用200倍显微系统测量边界模糊带(≤5μm)
5. 空白区域均匀性:通过分光光度计测定L*a*b*色空间差异(ΔE≤3)
检测范围
1. 纸质标签基材:铜版纸/热敏纸/合成纸(厚度80-300gsm)
2. 塑料薄膜包装:PET/BOPP/PVC材质(厚度12-250μm)
3. 金属表面基材:阳极氧化铝/镀锌钢板(表面粗糙度Ra≤0.8μm)
4. 纺织品吊牌:棉质/涤纶混纺材料(克重150-400g/m²)
5. 玻璃容器基面:钠钙玻璃/高硼硅玻璃(透光率≥85%)
检测方法
1. ASTM F1294-08:条码基材反射特性测试标准
2. ISO/IEC 15416:2016:一维条码印刷质量国际规范
3. GB/T 14258-2003:条码符号印制质量的检验
4. ISO/IEC TR 29158:2011:直接部件标识(DPM)基材测试
5. GB/T 18348-2008:商品条码符号印制质量的检验
检测设备
1. Microscan MS-9条码检测仪:配备660nm激光光源的反射率测量系统
2. Keyence IM-8000影像测量仪:0.5μm级高精度尺寸分析模块
3. X-Rite eXact分光密度计:支持ISO13655标准的M1测量模式
4. Olympus DSX1000数码显微镜:20-2000倍连续变焦观测系统
5. BYK-mac多角度分光光度计:15°/45°/75°多角度光泽度测量
6. Elcometer 456表面粗糙度仪:0-500μm量程接触式测量探头
7. Techkon SpectroDrive扫描平台:自动定位的CIE LAB色差分析系统
8. Zebra ZT411工业打印机联检模块:实时打印质量反馈单元
9. Panasonic FP-XH控制器:高速运动平台定位系统(±0.01mm)
10. Sartorius CPA225D电子天平:0.01mg级基材克重测量单元
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。