检测项目
1. 插入损耗:测试频率范围1-18GHz,允许偏差≤0.8dB@6GHz
2. 延迟时间精度:时域反射法测量,误差范围±50ps
3. 相位线性度:矢量网络分析仪测试相位波动≤3°/GHz
4. 阻抗匹配特性:VSWR≤1.5:1(DC-20GHz)
5. 温度稳定性:-55℃~+125℃环境下时延变化≤0.02%/℃
检测范围
1. 微波通信系统用同轴型延迟线(频率覆盖L/S/C波段)
2. 雷达信号处理模块集成微带延迟线(FR4/RO4350基板)
3. 光纤延迟线系统(单模/多模光纤组件)
4. SAW声表面波延迟线(石英/铌酸锂基片)
5. 波导结构毫米波延迟线(WR15/WR22标准波导)
检测方法
ASTM D4566-2020《电子元件高频特性测试规程》第7章时延测量法
IEC 61169-1-2021《射频连接器第1部分:电气试验方法》附录D相位一致性测试
GB/T 11313.41-2020《射频同轴电缆组件特性测量》第5.3节插入损耗测试
ISO 28721:2015《工业装置用搪瓷耐化学腐蚀性测定》第4类介质耐受试验
GB/T 2423.22-2012《环境试验 第2部分:温度变化试验方法》快速温变循环测试
检测设备
Keysight N5224B矢量网络分析仪:支持10MHz-43.5GHz频段S参数测量
Tektronix D8300时域反射计:时间分辨率达5ps的时延特性分析
Chroma 19032高低温试验箱:温控精度±0.5℃的可靠性测试
Rohde&Schwarz FSW67信号源分析仪:相位噪声<-120dBc/Hz@10kHz偏移
Anritsu ML2437A功率计:-70dBm~+20dBm动态范围功率校准
Agilent 86100D示波器:80GHz带宽眼图分析功能
Emerson 87501ES网络分析仪校准件:3.5mm接口TRL校准标准件
Fluke 5790A场强测试系统:30MHz-40GHz近场辐射干扰检测
HIOKI IM3536阻抗分析仪:4Hz-8MHz频率LCR参数测量
Thermo Scientific CL24盐雾试验箱:符合NSS/AASS/CASS腐蚀试验标准
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。