薄膜电阻检测

检测项目

1. 标称电阻值及偏差：测量实际阻值与标称值的差异范围，允许偏差通常为±0.1%至±5%。

2. 温度系数（TCR）：测试-55℃至+125℃范围内阻值随温度变化的稳定性，典型指标为±25 ppm/℃至±100 ppm/℃。

3. 额定功率及负荷寿命：在额定功率下连续加载1000小时，阻值漂移需小于±2%。

4. 耐电压强度：施加100 V至500 V直流电压1分钟，无击穿或飞弧现象。

5. 稳定性测试：85℃/85% RH环境下存储1000小时，阻值变化率不超过±1%。

检测范围

1. 金属薄膜电阻器：镍铬（NiCr）、氮化钽（TaN）等材料。

2. 陶瓷基板薄膜电阻：氧化铝（Al₂O₃）、氮化铝（AlN）基底材料。

3. 高分子复合材料薄膜电阻：聚酰亚胺（PI）基柔性电路用电阻。

4. 精密仪器用薄膜电阻：医疗设备、航空航天领域高精度元件。

5. 高频电路用薄膜电阻：微波通信模块中的低寄生电感元件。

检测方法

1. ASTM B809-95：金属薄膜环境可靠性测试标准。

2. IEC 60115-1:2020：电子设备用固定电阻器通用规范。

3. GB/T 5729-2003：电子设备用固定电阻器详细规范。

4. ISO 16750-4:2010：汽车电子元件耐温湿度循环测试方法。

5. GB/T 2423.3-2016：恒定湿热试验标准。

检测设备

1. Keysight 34461A数字万用表：6½位分辨率，支持0.001%基本直流精度。

2. Chroma 19032耐压测试仪：输出0-5 kV AC/DC电压，漏电流精度±1%。

3. ESPEC SH-642恒温恒湿箱：温度范围-70℃~+150℃，湿度10%~98% RH。

4. Tektronix DMM6500数据采集系统：支持多通道同步测量及TCR自动计算。

5. Agilent 4294A阻抗分析仪：40 Hz至110 MHz频率范围，测试高频特性。

6. FLUKE 5522A多产品校准器：提供0.001%级标准电阻源。

7. HIOKI RM3545微电阻计：最小分辨率0.01 μΩ，适用于低阻值测量。

8. Thermo Scientific Heratherm烘箱：高温老化试验专用设备。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.