检测项目
1.晶粒尺寸分布:测量范围0.5-500μm,精度0.1μm
2.取向差角分析:角度分辨率0.1,统计范围0-62.8
3.织构强度指数:计算ODF最大值(fmax)与多重性因子(M)
4.极图完整性:{100}、{110}、{111}极图采集密度≥5级
5.取向分布函数(ODF):展开阶数L=22,Bunge符号体系
检测范围
1.金属材料:冷轧钢板(DC06/SPCC)、钛合金(Ti-6Al-4V)、铝合金(AA6061)
2.半导体材料:单晶硅片(<100>/<111>)、砷化镓晶圆
3.陶瓷材料:氧化铝基板(Al₂O₃≥99%)、氮化硅结构件
4.高分子材料:高密度聚乙烯(HDPE)拉伸薄膜
5.复合材料:碳纤维增强环氧树脂预浸料(T800/AG80)
检测方法
1.ASTME2627:电子背散射衍射(EBSD)标准测试方法
2.ISO24173:微束衍射晶体取向测定技术规范
3.GB/T13298:金属显微组织检验方法
4.GB/T13305:不锈钢X射线衍射测定残余奥氏体含量
5.ISO16700:扫描电镜性能特征表述规范
检测设备
1.ZEISSSigma500场发射扫描电镜:配备OxfordSymmetryEBSD探测器
2.BrukerQUANTAXEBSD系统:CrystalImpact软件支持三维重构
3.RigakuSmartLabX射线衍射仪:9kW旋转阳极靶材
4.EDAXHikariPro高速EBSD相机:采集速度≥3000pps
5.TSLOIMAnalysisv8.0:支持HCP/BCC/FCC晶体结构分析
6.JEOLJSM-7900F热场发射电镜:分辨率1nm@15kV
7.PanalyticalX'Pert3MRDXL高分辨衍射仪:四轴测角仪系统
8.OxfordInstrumentsAztecCrystal:实时相鉴定与伪对称校正
9.ShimadzuEBSD-1000M:专用样品台倾转机构70
10.GatanMurano800CL:阴极荧光谱仪联用系统
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。