电子元器件检测

检测项目

1.电性能测试：包括工作电压（0-1000V）、漏电流（≤10μA）、绝缘电阻（≥100MΩ）及导通电阻（≤50mΩ）等参数测量

2.环境可靠性测试：温度循环（-65℃~150℃）、湿热试验（85℃/85%RH）、盐雾腐蚀（5%NaCl溶液）

3.机械强度测试：振动试验（10-2000Hz/50g）、冲击测试（1500g/0.5ms）、引脚抗拉强度（≥5N）

4.失效分析：X射线成像（分辨率≤1μm）、SEM显微观测（放大倍数10万倍）、EDS元素分析

5.寿命测试：高温工作寿命（125℃/1000h）、加速老化试验（温度湿度偏压THB）

检测范围

1.半导体器件：二极管、晶体管、IGBT模块及集成电路芯片

2.被动元件：电阻器（贴片/绕线）、电容器（陶瓷/电解）、电感器

3.连接器件：接插件、继电器、开关触点

4.PCB基材：FR-4板材铜箔附着力（≥1.0N/mm）、通孔阻抗（≤50mΩ）

5.光电元件：LED光通量（lm/W）、光电耦合器CTR值（50-600%）

检测方法

1.电性能测试依据IEC60749-25半导体器件机械气候试验方法

2.环境试验执行GB/T2423.17盐雾试验及ASTMB117标准

3.机械振动采用GB/T2423.10正弦振动与ISO16750随机振动规范

4.失效分析参照JEDECJESD22-A110内部水汽含量测试规程

5.材料成分分析按GB/T17359电子探针定量分析方法实施

检测设备

1.KeysightB1505A功率器件分析仪：支持3000V/1500A高压大电流测试

2.ThermotronATS-340环境试验箱：温变速率15℃/min，容积340L

3.BRUEL&KJAERLDSV955振动台：最大推力25kN，频率范围5-3000Hz

4.YXLONCougarSMT3D-AXIX射线检测系统：分辨率1μm@3X放大倍率

5.Agilent4156C精密半导体参数分析仪：最小电流分辨率0.1fA

6.HitachiSU8010场发射扫描电镜：二次电子分辨率1.0nm@15kV

7.ESPECTAS-112ESL温湿度偏压试验箱：支持200V偏置电压加载

8.OLYMPUSDSX1000数码显微镜：20-7000倍连续变倍光学系统

9.Chroma19032电源负载模拟器：最大功率1800W动态响应时间≤50μs

10.FLIRA700红外热像仪：热灵敏度＜40mK@30℃

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.