检测项目
1.晶粒尺寸测量:平均直径(10-500μm)、长宽比(1.0-3.5)、面积分布标准差(≤15%)
2.取向偏差角测定:相邻晶粒取向差(2-15)、最大取向梯度(≤5/μm)
3.胞状界面能测定:界面曲率半径(0.1-2.0μm)、界面能密度(0.5-3.0J/m)
4.缺陷密度统计:位错密度(10⁶-10⁰cm⁻)、亚晶界比例(5%-30%)
5.热稳定性分析:退火温度敏感性(Δd/d₀≤8%@800℃/2h)
检测范围
1.高温合金:镍基/钴基单晶叶片、定向凝固涡轮盘
2.铝合金铸件:汽车轮毂A356-T6、航空用ZL205A
3.钛合金锻件:TC4航空结构件、TB6高强紧固件
4.金属基复合材料:SiC/Al电子封装件、B4C/6061装甲板材
5.焊接接头:304L不锈钢管道焊缝、TC4电子束焊接头
检测方法
ASTME112-13晶粒度测定标准
ISO643:2019钢的显微晶粒度评级
GB/T6394-2017金属平均晶粒度测定法
ASTME2627-13电子背散射衍射分析方法
GB/T38817-2020金属材料电子背散射衍射分析方法
ISO24173:2009微束分析取向测量方法
检测设备
1.ZEISSSigma500场发射扫描电镜:配备OxfordEBSD探测器,空间分辨率1nm
2.OxfordInstrumentsNordlysMax3EBSD系统:采集速度3000点/秒,角度分辨率0.5
3.LeicaDM2700M智能金相显微镜:配备LAS图像分析模块,测量精度0.1μm
4.ShimadzuHMV-G21显微硬度计:载荷范围10gf-2kgf,压痕自动测量系统
5.BrukerD8DiscoverX射线衍射仪:配备Euleriancradle测角仪,角度重复性0.0001
6.Gatan656样品制备系统:离子束抛光电压1-8kV,倾角调节范围30
7.FEIApreoSEM:低真空模式下的EDS面分布分析功能
8.ClemexVisionPE图像分析软件:支持多相材料晶界自动识别算法
9.TSLOIMAnalysisv8.0:包含GOS(晶粒取向差)计算模块
10.JEOLJEM-2100F透射电镜:点分辨率0.19nm,用于亚晶界位错观察
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。