对数相频特性检测

检测项目

1. 相位延迟范围：测量0.1Hz-10MHz频段内相位偏移量（±180°）

2. 频率响应线性度：分析1kHz-1MHz区间线性误差（≤±0.5%）

3. 群时延波动：测试10kHz-100MHz带宽内时延变化（≤2ns）

4. 温度漂移特性：测试-40℃至+85℃环境下的相位稳定性（Δφ≤±3°）

5. 谐波失真影响：量化二次/三次谐波对相位特性的干扰度（THD≤-60dBc）

检测范围

1. 高频PCB基材：FR-4、Rogers RO4003C等层压板

2. 微波器件：波导滤波器、环形器及隔离器

3. 光纤通信组件：DWDM模块与光相位调制器

4. MEMS传感器：陀螺仪与加速度计的振动相位响应

5. 声表面波器件：SAW滤波器与延迟线

检测方法

1. ASTM E1876-22：射频元件相位线性度矢量网络分析法

2. ISO 17025:2017校准体系下的扫频阻抗测量法

3. GB/T 11313.41-2023射频连接器相位一致性测试规程

4. IEC 61169-1:2023射频同轴器件群时延测试规范

5. GB/T 17626.12-2023电磁兼容性中的相位抖动测试

检测设备

1. Keysight N5245B PNA-X网络分析仪（10MHz-50GHz）

2. Rohde & Schwarz FSW67频谱分析仪（20Hz-67GHz）

3. Anritsu MS4647B矢量网络分析仪（70kHz-70GHz）

4. Tektronix MSO68B示波器（8GHz带宽/25GS/s采样）

5. B&K 2270声学分析系统（20Hz-20kHz相位测量）

6. Agilent 4294A精密阻抗分析仪（40Hz-110MHz）

7. National Instruments PXIe-5633矢量信号收发仪

8. Fluke PM6681高精度频率计数器（0.001Hz分辨率）

9. OMICRON Lab Bode100频响分析仪（1mHz-50MHz）

10. Stanford Research SR785动态信号分析仪（1024线FFT）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.