陶瓷电容测试

检测项目

1. 电容量偏差：测量标称值与实测值偏差（±5%~±20%），测试频率1kHz±10%

2. 耐压测试：直流电压施加（额定电压1.5-3倍），维持60s无击穿

3. 损耗角正切（tanδ）：25℃下测量值≤0.0025（C0G介质）至≤0.15（X7R介质）

4. 绝缘电阻：额定电压下≥10GΩ（C0G）或≥4GΩ（X7R/X5R）

5. 温度特性：-55℃~+125℃范围内容量变化率≤±15%（X7R）或≤±30ppm/℃（C0G）

检测范围

1. 多层陶瓷电容器（MLCC）：0402/0603/0805等贴片封装

2. 高压陶瓷电容器：额定电压1kV~30kV直流

3. 微波介质电容器：工作频率300MHz~30GHz

4. 安全认证电容器：X1/Y2类安规电容

5. 特种介质材料：COG/NPO/X7R/X5R/Y5V等介电体系

检测方法

1. IEC 60384-8:2021《固定电容器 第8部分：分规范 1类陶瓷介质固定电容器》

2. ASTM D150-11(2018)《固体电绝缘材料的交流损耗特性和电容率标准试验方法》

3. GB/T 2693-2020《电子设备用固定电容器 第1部分：总规范》

4. MIL-PRF-55681H:2022《多层片式瓷介电容器通用规范》

5. GB/T 6346.8-2015《电子设备用固定电容器 第8部分：分规范 2类陶瓷介质固定电容器》

检测设备

1. Keysight E4980A精密LCR表：测量10Hz至2MHz频率下的C/DCR/Q值

2. Chroma 19032耐压测试仪：输出0~5kV AC/DC电压，精度±1%

3. ESPEC PL-3KPH温度箱：-70℃~+180℃温控范围

4. Agilent 4294A阻抗分析仪：40Hz至110MHz高频特性分析

5. Hioki IM3536 LCR测试仪：4端对测量模式支持100μΩ~100MΩ量程

6. Tektronix AFG31000函数发生器：产生1μHz~120MHz激励信号

7. Fluke 8846A数字万用表：6½位高精度直流参数测量

8. GW Instek LCR-8105G自动分选系统：支持500pF~100mF电容快速分档

9. Haida HDJF-50kV局部放电仪：检测介质内部缺陷放电量≥1pC

10. Netzsch DIL402 Expedis热膨胀仪：测量温度循环下的尺寸变化率

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.