计数能谱计检测

检测项目

1. 元素定性分析：能量范围0.1-40keV，检出限0.01-1wt%

2. 薄膜厚度测量：测量精度±5nm（厚度范围10-5000nm）

3. 能谱分辨率测试：半高宽≤130eV（Mn Kα线）

4. 峰背比测定：典型值≥1000:1（Fe Kα峰）

5. 长期稳定性验证：8小时漂移≤0.5%

检测范围

1. 金属材料：铝合金中Mg/Si含量测定（0.1-15wt%）

2. 半导体器件：硅晶圆表面金属污染检测（Na-Al-Fe-Cu, ≥1E10 atoms/cm²）

3. 环境样品：土壤重金属分析（As/Cd/Cr/Pb, 检出限10ppm）

4. 考古文物：青铜器表面腐蚀产物成分鉴定（Cu/Sn/Pb/O/S）

5. 电子元件：焊料合金成分验证（Sn-Ag-Cu体系±0.3wt%）

检测方法

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.