检测项目
1. 表面粗糙度(Ra值):测量范围0.1-0.8μm,使用白光干涉仪进行三维形貌分析
2. 尺寸公差:精度要求±0.005mm以内,采用三坐标测量机进行多轴校准
3. 电极损耗率:计算体积损耗比≤0.5%,通过电子天平(精度0.1mg)称量前后质量差
4. 微观裂纹深度:金相切片法测量裂纹扩展深度≤30μm
5. 热影响区厚度:显微硬度计测定HV0.3梯度变化区域≤150μm
检测范围
1. 硬质合金刀具:包括钨钢铣刀、钻头等复杂刃具
2. 钛合金航空部件:发动机叶片、起落架结构件
3. 模具钢模块:H13、SKD61等热作模具型腔
4. 半导体石墨电极:EDM加工用高纯度石墨材料
5. 陶瓷复合材料:氮化硅、碳化硅特种陶瓷件
检测方法
1. ASTM E3-11:金相试样制备标准
2. ISO 4287:1997:表面粗糙度轮廓法测量规范
3. GB/T 14896.3-2009:电加工机床精度检验标准
4. ISO 25178-2:2012:非接触式表面形貌测量方法
5. GB/T 4340.1-2009:金属材料维氏硬度试验规程
检测设备
1. Mitutoyo Surftest SJ-410:接触式表面粗糙度仪(分辨率0.01μm)
2. Zeiss Axio Imager A2m:金相显微镜(最大放大倍数1000×)
3. Hexagon Global S 7.10.7:三坐标测量机(空间精度1.9+L/250μm)
4. Bruker ContourGT-X8:白光干涉三维轮廓仪(垂直分辨率0.1nm)
5. Shimadzu HMV-G21ST:显微硬度计(载荷范围10gf-2kgf)
6. Mettler Toledo XPE205DR:精密电子天平(称量精度0.01mg)
7-Keyence VHX-7000:数码显微镜(景深合成功能)
8.Agilent 5500 AFM:原子力显微镜(纳米级表面分析)
9.Thermo Scientific Prisma E SEM:扫描电镜(二次电子成像)
10.Malvern Panalytical Empyrean:X射线衍射仪(残余应力分析)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。