非线性晶体检测

中析研究所CMA实验室进行的非线性晶体检测，会为您提供尺寸测量、长脉冲试验、电光效应等检测服务，并出具严谨、合规、标准的第三方检测报告。标准参考:GB/T 16863、GB/T 16864、JB/T 9495等。

项目详情：

非线性晶体检测是一项重要的任务，它能够测试和验证非线性晶体的性能和特性。非线性晶体是一种具有非线性光学效应的材料，广泛应用于光通信、光学测量和激光技术等领域。为了确保非线性晶体的质量和可靠性，对其进行检测是必要的。本项目旨在开展非线性晶体的全面检测，包括晶体外观检测、光学特性测试和非线性效应测量等。通过这些检测手段，可以准确测试非线性晶体的性能指标，为其在各个应用领域提供科学依据和技术支持。

检测样品

二次非线性晶体、三次非线性晶体、倍频晶体、光参量晶体、光学调制晶体、倍频晶体、自聚焦晶体、非线性光学晶体等。

检测项目

尺寸测量、透明度测定、折射率测量、色散测量、谐振频率测试、长脉冲试验、掺质浓度检测、单程损耗、电光效应、多掺杂激光工作物质、饱和吸收性能、非线性效应、被动锁模检测、倍频效率、波前畸变、光损耗系数检测、光学均匀性、侧向散射、磁光效应、动态消光比、半波电压、多光子吸收、共振转移、光束发散角、激光阈值、晶体缺陷、平方电光效应、热透镜效应、透射比检测、非线性光学特性测试、二次谐波发生效率测试、相位匹配条件测试、光学损耗测试、温度稳定性测试、功率承受能力测定、波长调谐性能测量、非线性系数测定、谐振腔特性测试、光学非线性参数测量、光学非线性饱和特性测试、非线性晶体光学性能研究、激光脉冲放大特性测试、光学调制特性测定、相位匹配带宽测试、非线性晶体稳定性测试。

技术相关、费用详情或其他测试项目请咨询工程师!

参考周期:常规测试7-15工作日,加急测试5个工作日.

仪器详情(部分)：

非线性光学显微镜：用于观察非线性晶体在激光或光束作用下的非线性光学效应，例如二次谐波、倍频、差频、和频等效应。

自发参量下转换器：用于观察非线性晶体在自发参量过程中的光学效应，例如自发参量振荡、自发参量放大等。

闪光非线性光学显微镜：用于观察非线性晶体在闪光激光作用下的非线性光学效应，例如闪光二次谐波、闪光和频效应等。

非线性光学频率转换器：用于将输入光信号通过非线性晶体的非线性光学效应转换为其他频率的光信号，例如光学参量放大器、光学参量振荡器等。

电光调制器：用于通过对非线性晶体施加电场来改变其折射率，实现光的调制和控制，例如电光调制器、光参量调制器等。

超快光学系统：用于研究非线性晶体在超快光脉冲激发下的非线性光学效应，例如超快光学显微镜、超快光学谱仪等。

检测详情(部分)：

1、光学性能测试：

二次谐波产生(SHG)测试：通过将激光束输入到非线性晶体中，测量其产生的二次谐波信号强度，以测试其二次非线性光学性能。

光学吸收谱测量：使用光谱仪测量非线性晶体在吸收区域的光吸收强度，以分析其光学吸收特性。

2、表面形貌分析：

扫描电子显微镜(SEM)：使用SEM观察非线性晶体的表面形貌和结构，以测试其表面平整度和形貌特征。

原子力显微镜(AFM)：使用AFM测量非线性晶体的表面粗糙度和形貌，以分析其表面特征和结构。

3、结构分析：

X射线衍射(XRD)：使用XRD分析非线性晶体的晶体结构和晶格常数，以确定其晶体结构类型和晶体质量。

傅里叶变换红外光谱(FTIR)：使用FTIR测量非线性晶体的红外吸收谱，以分析其化学成分和官能团。

4、热性能分析：

热重分析(TGA)：使用TGA测量非线性晶体在加热过程中的质量变化，以测试其热稳定性和热分解特性。

差示扫描量热仪(DSC)：使用DSC测量非线性晶体在加热或冷却过程中的热响应，以测试其热性能和热转变特性。

5、光学非线性参数测量：

脉冲自相关(FROG)测量：使用FROG技术测量非线性晶体中的光脉冲的时间和频率特性，以测试其非线性光学参数。

非线性折射率测量：使用自聚焦等技术测量非线性晶体的非线性折射率，以测试其非线性光学性能。

标准参考

GB/T 16863-1997 晶体折射率的试验方法

GB/T 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法

GB/T 16822-1997 介电晶体介电性能的试验方法

GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

GB/T 37983-2019 晶体材料X射线衍射仪旋转定向测试方法

JB/T 9495.1-2015 光学晶体 第1部分：技术条件

JB/T 9495.2-1999 光学晶体折射率 测定方法

JB/T 9495.3-1999 光学晶体透过率 测量方法

JB/T 9495.4-1999 光学晶体应力双折射 测量方法

JB/T 9495.5-1999 光学晶体色散颗粒度 测量方法

JB/T 9495.6-1999 光学晶体光吸收系数 测量方法

JB/T 9495.7-1999 光学晶体光学均匀性 测量方法

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).