干涉仪检测

中析研究所CMA实验室进行的干涉仪检测，会为您提供相互作用测试、准确度测试、光源功率检测等检测服务，并出具严谨、合规、标准的第三方检测报告。标准参考:GB/T 2831、JB/T 5610、JJF 1100等。

检测范围

光学薄膜：干涉仪可以测量光学薄膜的厚度、折射率、反射率等参数。

光学元件：干涉仪可以检测透镜、棱镜、反射镜等光学元件的曲率、表面质量、偏差等参数。

光学器件：干涉仪可以对激光器、光纤、半导体激光器等光学器件进行测量和测试。

光学材料：干涉仪可以测量光学材料的折射率、透过率、反射率等参数。

纳米材料：干涉仪可以用于纳米材料的厚度测量、表面形貌分析等。

检测项目

最大测量速度、激光波长准确度、分辨力检测、量程、外观检测、相互作用、耐老化测试、电磁兼容性检测、预热时间测试、频率稳定性检测、准确度测试、防震/防腐/防锈/防潮测试、光源功率检测、干涉图像分辨率检测、重复性检测、灵敏度检测、光学元件对齐检测、相位校准检测、仪器响应检测、波长精度检测、波长范围检测、阻抗匹配检测、干扰信号检测、传输损耗检测、动态范围检测、稳定性检测、误差修正检测、系统噪声检测等。

技术相关、费用详情或其他测试项目请咨询工程师!

参考周期:常规测试7-15工作日,加急测试5个工作日.

检测仪器(部分)：

红外光谱仪、热重分析仪、气相色谱仪、质谱仪、元素分析仪、纳米粒度分析仪、红外热像仪、高性能液相色谱仪、紫外可见分光光度计。

检测详情(部分)：

分辨率测试：测试干涉仪的最小分辨率，即能够分辨的最小间距或最小角度。

波长精度测试：测试干涉仪的波长测量精度，即测量结果与真实波长之间的差异。

反射率测试：测试干涉仪的反射率，即输入光线与输出光线之间的反射比例。

干涉图形质量测试：测试干涉仪产生的干涉图形的质量和清晰度，包括干涉纹的对比度、均匀性等。

光路稳定性测试：测试干涉仪的光路稳定性，即在长时间使用或环境变化下，干涉仪的光路是否保持稳定。

光源稳定性测试：测试干涉仪所使用的光源的稳定性，即光源的波长、强度是否保持稳定。

系统灵敏度测试：测试干涉仪的灵敏度，即能够检测到的最小光强度。

相位测量精度测试：测试干涉仪的相位测量精度，即测量结果与真实相位之间的差异。

标准参考

GB/T 2831-2009 光学零件的面形偏差

JB/T 5610-2006 激光干涉仪

JB/T 13872-2020 平面相移干涉仪

JJF (通信)036-2019 光纤端面3D干涉仪校准规范

JJF 1100-2016 平面等厚干涉仪校准规范

JJF 1739-2019 数字式激光球面干涉仪校准规范

JJF 2007-2022 光纤端面干涉仪校准规范

JJG 101-2004 接触式干涉仪检定规程

JJG 371-2005 量块光波干涉仪检定规程

JJG 661-2004 平面等倾干涉仪检定规程

JJG 739-2005 激光干涉仪检定规程

T/SZBX 080-2022 相移式激光干涉仪

ASME B89.1.8-2011 位移测量激光干涉仪的性能测试

ASTM E2244-2011 用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法

ASTM E2245-2011 用光学干涉仪测量反射薄膜残余应力的标准试验方法

ASTM E2246-2011 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法

BS EN ISO 3868-1995 金属和其他无机物涂层.涂层厚度的测量.菲索(Fizeau)多光束干涉仪法

CEI EN 62129-2-2012 波长/光学频率测量仪器的校准第2部分:迈克尔逊干涉仪单波长计

DIN EN 62129-2-2012 波长/光频测量仪的校准 第2部分：迈克逊单波长干涉仪

GOST 8.215-1976 ГСИ 干涉测量用玻璃平晶( 干涉仪 ) 检定方法和器具

GOST 13005-1967 测定液体和气体浓度用干涉仪 检定方法和器具

GOST ISO 5347-1-1996 振动.振动校准.第1部分:用激光干涉仪校准基本振动

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).